第514章测试失败
第514章测试失败(第2/3页)
面前挥了挥，他脸色不怎么好看：“我们造出来的第一片芯片烧掉了？”
“是。”
贺小满回答的声音太淡定了，淡定到何群皱眉问道：“贺同志，你为什么不难过啊？这片芯片我们花了一个多月的时间，可是它成了废品，它失败了，我们又要从头再来了。”
他不理解，贺小满为什么可以这么淡定。
就像是对待垃圾一样，不在乎它的结果。
可是这片芯片不是垃圾，是他们一个多月的心血啊！
贺小满没有接话，她调整显微镜的焦距，对准芯片。
原本亮银色的铝线变成灰褐色。
贺小满暗道：“原来问题出在这里啊。”
“哪里？”何群着急了：“问题在哪里？”
“你来看。”
贺小满让开位置：“电流直接从电源到地，不经过任何负载，电流不受控，最后烧断铝线，让芯片成为废品。”
何群看着出现问题的地方点头道：“确实是这样，所以我们这一片没有通过测试？”
“嗯，没有。”
何群闻言难过地抓了抓头发，又带下了好几根。
但这次他没有像往常一样在乎掉下来的头发，而是难过芯片变成废品。
眼见着何群又要去抓头发，贺小满连忙道：“除了这，你没有发现别的事情？”
“什么事情？”何群放下手：“我只知道我们这一个多月白忙活了。”
“没有。”贺小满声音很轻却很坚定：“你看芯片线条边缘，你再看刻蚀深度还有接触孔。”
何群调整镜头，按照贺小满刚才说的那几个一一看了过去。
“线条很干净，没有任何毛刺。”何群的声音不再像刚才那样低沉。
他有点不敢相信，这么干净的芯片出自他们两个之手。
“刻蚀深度和我们的设计值一样，都是零点三微米，分毫不差！”
“接触孔大小均匀，深度控制得刚刚好！”
这一次何群声音上扬，带着开心：“贺同志，我们不是完全的失败，除了刚才那个问题，其他都是成功的。”
“光刻通过，刻蚀通过，氧化层厚度均匀，扩散浓度达标，接触孔良率百分百......”何群一条一条念着，念到最后他笑了：“这一片芯片死得其所。”
贺小满点头：“确实死得其所，除了刚才那一个问题需要进行调整，其他的都已经证明我们的工艺没有问题，何同志将芯片取下来。”
“好。”何群将烧坏的芯片递给贺小满：“不要把它扔了，它身上有很多工艺在华国处于领先水平。”
“不扔。”贺小满走到左侧。
这个位置头顶写着安全生产四个字。
而再下面一点弄了块很小的黑板。
贺小满将芯片贴了上去，在芯片下面写下了一个一。
“不扔，留着它。”贺小满收好粉
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